在线咨询 在线咨询

微信 微信
顶部
首页 - 产品中心 - RoHS1.0检测仪 - JXF-8000 能量色散X荧光光谱仪
JXF-8000 能量色散X荧光光谱仪
产品概述:

JXF-8000 是骏辉腾旗下CONOMA系列产品中光谱仪类的高端机型,双重射线防护系统;人性化操作界面;综合应用经验系数法、基本参数法V1.0分析软件。元素测试范围从S-U。即可以检测法规中的铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、总溴(Br)和总铬(Cr),也可以检测无卤素指令中的氯(Cl)和溴(Br)元素。精心设计的开放式工作曲线功能,特别适用于多种材料的工厂制程管控。比较业界的传统常见仪器,该机型具备目前行业中快速分析物料异常识别的优点,是基于充分解决客户HSF管控诉求的、高效精确的系统方案,此方案原理清晰、方法可行、效果显著。


“快”:通过大量实验,给出了不同材料在不同含量时的标准偏差,并根据此结果建立科学的数学模型,可在短的时间内给出符合IEC62321标准的报告,此报告满足追责需求(即尽职免责)。


文件下载
  • 分析S-U中所有重金属元素

  • 快速测试、灵敏度高

  • 镀层测厚功能

  • 行业标准起草单位

  • Product advantages
    产品优势
    精准:开放式工作曲线
    提供开放式工作曲线平台,用户可以自由配置工作曲线以及任意添加标样数据,以满足更高测试度的要求,或适应环保指令的后期扩展;
    快速:独创的全谱图对比功能

    实时追踪供应商物料异常并及时预警,对RoHs/无卤素及供应商管控具有无可比拟的优势。

    安全:双重X射线保护

    双重X射线保护(软件、硬件、迷宫设计)确保操作人员人身安全与意外操作带来的辐射伤害;

    大样品室设计

    大样品室设计,可开盖测试无限大样品(有保护机制)相对于传统机型,提供了更大的空间;

    采用新型的光路设计

    采用新型的光路设计,降低了氯(Cl)元素的检出下限;

    量身定制有害物质检测方案

    提供开放式工作曲线标定平台,可为用户量身定制管控有害物质检测方案;

    领先的XRF分析软件

    国际领先的XRF分析软件,融合了包括经验系数法、基本参数法(FP法)等分析方法;

    多种报告输出格式(Excel、PDF等)

    可根据用户要求自行定制测试报告输出格式(Excel、PDF等)符合工厂多种统计及格式要求;多语种(英语、简体中文、繁体中文等)软件界面可供选择;

    Product Features
    产品特点
    • 可以对RoHS指令中的有害元素及无卤要求(Pb,Cd,Hg,Br,Cr,Cl)进行精准测试;预置多条工作曲线,涵盖金属、PE、PVC、铝镁、焊锡、铜合金等基体类型可满足用户常规测量的要求;
    • 精确的数据处理方式:以基本参数法为依据精确配置的滤光片系统大幅提高峰背比,结合一系列先进的光谱处理方法,极大提高特征谱线的检出精度,以此为依据用经验系数法再做进一步校正,使测试数据达到极高的精密度和准确度;
    • 数据管理:由数据库支持的专业化报表生成、查询打印、操作员分级授权等功能极大方便企业管理;
    • 完善的安全连锁功能:配合硬件电路的防护措施,在不安全的操作发生时自动切断X射线确保操作员不受伤害;
    • 智能化软件保护:避免不当操作对光谱仪的损伤,延长仪器使用寿命。
    • 稳定性自检功能:可即时对仪器当前稳定性进行自动检测;
    Applictation scope
    应用范围

    JXF-8000 经过多年算法经验积累,设计研发合理化,测试准确且操作得心应手,便捷化RoHS限量检测,材料元素分析,镀层厚度分析,检测符合全球有害物质规则条例和检测方式。主要应用行业为电子电器,大小家用电器,IT及通讯设备,照明设备,五金材料,焊锡PCB等行业。


    在对消费产品进行检测以判断产品是否符合以下全球有害物质规则条例及检测方法的工作中,JXF-8000分析仪已被认可为一种筛查工具:
    日本RoHS
    美国消费品安全改进法案(CPSIA)(HR4040)
    中国RoHS指令(ACPEIP)
    欧盟RoHS指令(2011/65/EU)
    韩国RoHS指令
    美国不含卤素的限制指令
    加州65号提案
    美国CPSC-CH-E1002-08 SOP的标准作业程序
    Technical Parameter
    技术参数
    检测范围
    满足欧盟RoHS指令限定中重金属元素有害元素检测铅(Pb)、镉(Cd)、汞(Hg)、总铬(Cr)和无卤指令中的氯(Cl)、溴(Br)元素;可选检测:铁合金和铜合金成分分析,金属镀层测厚(分析1-2层,最低检出限0.005um功能等)
    检测方法

    符合IEC62321,GB/T26125-2011标准检测方法等

    测试元素范围

    S-U中的元素,满足定性定量分析

    测试样品类型
    固体、粉末和液体
    检测含量范围

    1ppm-99.99%

    检测下限

    Pb≤5ppm,Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm,Cl≤50ppm 

    测量时间

    10~200s(时间可调)

    重复性
    ≤0.5%
    稳定性
    ≤0.5%
    准直器
    Φ0.3mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ5mm、Φ8mm
    滤光片
    5种复合滤光片自动切换
    CCD观察
    800万像素高清CCD
    探测器

    美国 Si-pin(X-123 DP5 FW6版本)探测器

    分辨率

    140±5 KeV

    制冷方式

    电制冷,稳定性和准确性高,无需液氮

    探测窗口

    铍窗

    谱图处理系统

    数模转化(DP5)、道址区间2048、计数 500~8000cps

    X射线管靶材
    Mo靶,其他靶材可选
    X射线管窗口

    Be窗

    冷却方式

    硅脂冷却

    使用寿命

    ≥15000h

    设备结构

    含铅板防辐射,机械结构,带报警提示功能

    安全性

    全封闭式金属机箱及防泄漏保护开关,更好地保障操作员的人身安全。整体外观简约、大方,内部通风性优,并有效屏蔽电磁干扰

    X射线辐射防护功能
    三重射线防护系统(软件、硬件、迷宫式设计),开盖测试自动警示系统,符合国家标准(参考标准: 《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》GB 18871-2002)、检验合格标准不大于0.5 μSv/hr.
    输入电源

    AC110V~250V,50/60Hz

    额定功率
    400W
    工作环境温度
    温度10—30℃
    工作环境相对湿度
    40%~80%(不结露)
    仪器尺寸
    520mm(W)*400mm(D)*355mm(H)
    样品腔尺寸
    420*320*65mm,可开盖测试无限大样品(有保护机制)
    净重
    约41.8Kg
    探测系统
    1套
    类型:Si-PIN 探测器
    品牌:美国Amptek(全配件原装进口)
    Be窗厚度:1mil(0.0254mm)
    最佳分辨率:140±5eV
    系统峰背比:≥ 6200/1
    能量响应范围:1keV ~ 40keV
    推荐计数率:5000cps
    X光管
    1根

    电   压: 0 ~ 50 kV

    最大电流: 1.0 mA

    最大功率: 50 W

    灯丝电压: 2.0V

    灯丝电流: 1.7 A

    射线取出角:12°

    靶   材:Mo

    X射线窗口:Be窗

    高压电源
    1个

    输入电压: DC +24V±10%

    输入电流:4.25A(最大)

    输出电压: 0 -50KV & 1mA

    最大功率:50W

    电压调整率:0.01% (从空载到满载)

    电流调整率:0.01% (从空载到满载)

    纹波电压:输出额定电压前提条件下,纹波电压的峰值为最高输出电压的0.25%。

    8小时稳定性:≤0.05%

    微动平台
    1套

    载物测试平台,微调装置在仪器外面,结合800万像素的高清CCD,对测试样品进行精确定位,防止样品放置好后关闭样品盖产生振动而使测试位置发生变化,导致测试不准确;

    高分辨率CCD
    1套

    800万像素的高清CCD摄像头,可有效的实时观察测试区域状况,并拍下物料照片,作为检测报告的组成部分。

    散热系统
    1套
    高效三维散热系统,大幅度提供仪器的可靠性、稳定性。
    防辐射安全系统
    1套
    三重射线防护系统(软件、硬件、迷宫式设计), 开盖测试自动警示系统
    RoHS专用分析软件
    1套